![](https://alatuji.com/images/content//cache/250x250_120339515525c497269d7d7d.jpg)
Charpy impact test atau dikenal dengan V-notch Charpy adalah standar tinggi regangan tingkat tes yang akan menentukan jumlah energi yang akan diserap oleh material selama fraktur. Energi ini yang akan diserap adalah ukuran ketangguhan takik bahan tertentu dan bertindak sebagai alat untuk belajar bergantung pada suhu transisi. Hal ini banyak digunakan pada pelaku industri, karena mudah untuk mempersiapkan dan melakukan serta hasilnya dapat diperoleh dengan mudah, cepat dan murah.
Instrumented Impact Testing Machine, juga disebut Oscillogram Impact Testing Machine, adalah peralatan yang ideal untuk melakukan analisis dampak dinamis dari bahan logam. Perilaku fraktur bahan logam biasanya dievaluasi dalam kondisi pembebanan statis dan quasi-statis. Namun, dalam kehidupan nyata, komponen mungkin mengalami pemuatan dinamis selama acara seperti kelebihan beban yang tidak disengaja. Oleh karena itu penting untuk mempelajari dan memahami perilaku ketahanan retak material selama kondisi pemuatan dinamis tersebut.
Time JB-W750L Instrumented Charpy adalah alat pengujian impact testing yang memiliki pengukuran yang akurat. Time JB-W750L Instrumented Charpy menggunakan pengujian dengan metode charpy yang dimana metode ini dapat melakukan analisis dampak dinamis dari dari bahan logam.
Features:
- High stiffness load frame & base to guarantee the stability.
- Refined swing rod with high stiffness prevented the shaking of pendulum after test.
- High precise photoelectric encoder to measure the angle. The whole system adopts lot of mature Optoelectronic Technology and Optoelectronic seclusion technology to improve the measuring precise and stability.
- The machine can not only be operated by software, but also by control box. Dual control way improved the flexibility of machine operation to improve the working efficiceny.
- The software can not only examine the energy, return zero, loss of energy, swing circle, but also can display, store, print the testing result through compute